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1.1. 工作室溫度沖擊范圍

1.2. 高溫室溫度范圍

1.3. 低溫室溫度

1.4. 溫度波動(dòng)度：

1.5. 溫 度 偏 差

1.6. 溫度恢復(fù)時(shí)間

1.7. 溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間

－40℃～+150℃

60℃～200℃、升溫時(shí)間≤45分鐘

-10℃～-50℃、降溫時(shí)間≤50分鐘

≤±0.5℃

≤±2℃

≤5分鐘

≤10 秒

1.8 吊 籃 尺 寸

1.9 高溫室尺寸

1.10 低溫室尺寸

350×250×50（mm）（長×寬×高）

500×500×400（mm）（長×寬×高）

500×500×400（mm）（長×寬×高）

箱體材質(zhì)

高低溫沖擊試驗(yàn)箱內(nèi)箱采用1.2mm優(yōu)質(zhì)不銹鋼板，外殼1.5mm冷軋板靜電噴塑

控制系統(tǒng)

采用進(jìn)口彩色觸摸屏控制器，精度：±0.1℃

制冷系統(tǒng)

采用進(jìn)口或法國“泰康”制冷機(jī)組，制冷劑進(jìn)口環(huán)保型R404A、R23

保護(hù)裝置

超溫保護(hù)，缺相保護(hù)，漏電保護(hù)，壓縮機(jī)超壓等多重保護(hù)功能

高低溫沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)b：高溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.22 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法